SPARC Compact 是一款具有滤色功能的高端阴极发光强度检测器。易于集成到 SEM 中的 SPARC Compact 是一种非常可靠的显微解决方案,用以洞悉有关晶体生长分区,置换,变形,物源,地质样品中微量元素的存在以及半导体中缺陷结构等过程。

 

 

SPARC Compact 的系统高度模块化,这意味着它可以随着您的研究的发展和向前进行升级和增强。同时,Labworld 团队也跟这款系统一样将随时为您提供支持,并确保您获得高质量研究结果并离您的目标更进一步。

充分利用光的力量,于精巧的解决方案中进一步观测探索您的材料

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  • SPARC Compact

    纳米级高速细节洞悉

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